长霉试验

长霉试验就是检测产品抗霉菌的能力和在有利于霉菌生长的条件下（即高湿温暖的环境中和有无机盐存在的条件下），设备是否受到霉菌的有害影响。在一定的气候和环境条件下﹐微生物可在电工电子设备表面附着并大量繁殖。这些微生物或它们的代谢产物不仅可损坏设备本身，还可影响设备的可操作性和使用可靠性。
微生物对设备的作用形式受到两种不同过程的影响：直接作用即劣化的材料作为微生物生长的一种营养物质，以及间接作用即微生物的代谢产物引起（设备材料和/或功能的)劣化。
长霉试验可确定电工电子产品上长霉程度和长霉对产品性能及其他相关特性影响。七二检测检测检测VBA具备各种电工电子设备长霉试验能力，为气象仪器、军用装备、光学和光子学仪器等电工电子设备提供专业的长霉试验服务。

试验方法1
经过28d培养以后，确定：
—外观检查确定霉菌生长程度；
—长霉引起的物理损伤；
—长霉条件下对功能和/或电性能的影响，如果相关规范中有要求。
如果相关规范要求检查功能和/或测量电性能，培养期应延长至56 d。
试验方法2
用营养液对样品预处理后，进行为期28 d的培养，确定：
—外观检查确定霉菌生长程度；
—长霉引起的物理损伤；
—长霉条件下对功能和/或电性能的影响，如果相关规范中有要求。
通过使用营养液来模拟污染未长霉的样品，会降低样品表面的防霉性能。如果检查功能和/或测量电气性能，宜考虑该影响。
使用营养液就会发生长霉，如果没有长霉，宜考虑防霉剂的影响。

首先应用肉眼检查样品，若有必要可用立体显微镜放大50倍左右进行检查。应按下述等级评定和描述长霉程度：
等级：
—0    在放大50倍下，没有发现明显长霉；显微镜下看到长霉痕迹；
—1    显微镜下看到长霉痕迹；
—2a  肉眼看到稀疏长霉或者显微镜下看到分散、局部长霉，长霉面积不超过试验面积的5%；
—2b  肉眼明显看到很多地方或多或少均匀长霉，长霉面积不超过试验面积的25%；
—3    肉眼明显看到长霉，长霉面积超过了试验面积的25%。
注：当试样由不同等级的零部件组成时，宜分别对它们进行评定。对于试验方法⒉，只要求检查抑制真菌生长效力时，才规定0等级。

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