半导体器件扫频振动试验

时间：2024-06-02 12:38:44 来源：作者：

半导体器件扫频振动试验

半导体器件扫频振动试验试验背景

半导体器件扫频振动试验目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响，属于破坏性试验，通常用于有空腔的器件。
七二检测检测环境检测VBA拥有各种半导体器件机械和气候试验设备，具备扫频振动试验能力，为半导体器件、设备提供专业的扫频振动试验服务。

半导体器件扫频振动试验试验方式

样品应刚性地安装在振动台上，引出端和电缆也应安全固定，以避免引人额外的引线共振。应使样品做简谐振动，其振幅两倍幅值为1.5 mm（峰-峰值），或其峰值加速度为200 m/s2 ，取较小者。振动频率在20 Hz~2 000 Hz范围内近似对数变化。
从20 Hz~2 000 Hz再回到20 Hz的整个频率范围的振动时间不应少于4 min。在X、Y和Z 3个方向上各进行4次这样的循环（共12次）。

半导体器件扫频振动试验试验标准

GB/T 4937.1-2006 半导体器件机械和气候试验方法第1部分：总则
GB/T 4937.12-2012 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动
GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验 Fc：振动（正弦）
IEC 60749-12 ：2002 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动

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