光学仪器振动与高温低温综合试验 光学仪器振动与高温低温综合试验 试验背景 光学和光子学仪器振动与高温低温综合试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电气等性能受振动（正弦）与高温、低温的影响时的变化程度。
七二检测检测 检测VBA具备各种光学和光子学仪器的环境试验能力，为光学和光子学仪器产品提供专业的等环境试验服务。 光学仪器振动与高温低温综合试验 试验范围 所有光学和光子学仪器包括来自其他领域附属组件（如机械、化学和电子设备） 光学仪器振动与高温低温综合试验 试验方法 试样各部分都应达到试验箱（室）温度3K以内才开始试验。对于散热型试样，在温度稳定的试验箱（室）内试样的温度变化在每小时不超过1K时作为开始（或终止）暴露周期的时间，试样温度达到稳定的最后1h作为暴露周期的最初1 h。
分为：振动（正弦）与高温综合试验、振动（正弦）与低温综合试验。 光学仪器振动与高温低温综合试验 试验标准 GB/T 12085.1-2022 光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围
ISO 9022-1：2016光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围
ISO 9022-10：1998光学和光学仪器 环境试验方法 第10部分：振动（正弦）与高温、低温综合试验
GB/T 12085.10-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第10部分：振动（正弦）与高温、低温综合试验
GB/T 12085.2-2022 光学和光子学 环境试验方法 第2部分：低温、高温、湿热
GB/T 12085.3-2022 光学和光子学 环境试验方法 第3部分：机械作用力
GB/T 2423.35电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动（正弦）综合试验
GB/T 2423.36 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Z/BFc；散热和非散热试验样品的高温/振动（正弦）综合试验
GB/T 2423.43 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法振动冲击和类似动力学试验样品的安装
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