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光学仪器冲击碰撞或跌落与高低温综合试验
时间:2024-06-02 12:48:22 来源: 作者:
光学仪器冲击碰撞或跌落与高低温综合试验
光学仪器冲击碰撞或跌落与高低温综合试验
试验背景
光学和光子学仪器冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验目的是研究试样的光学、热学、力学、化学和电学性能受到冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温影响变化的程度。
七二检测
检测
检测VBA
具备各种光学和光子学仪器的环境试验能力,为光学和光子学仪器产品提供专业的冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验等综合环境试验服务。
光学仪器冲击碰撞或跌落与高低温综合试验
试验范围
所有光学和光子学仪器包括来自其他领域附属组件(如机械、化学和电子设备)
光学仪器冲击碰撞或跌落与高低温综合试验
试验方法
试样各部分都应达到试验箱(室)温度3K以内才开始试验。对于散热型试样,在温度稳定的试验箱(室)内试样的温度变化在每小时不超过1K时作为开始(或终止)暴露周期的时间,试样温度达到稳定的最后1h作为暴露周期的最初1 h。
包括:冲击与高温综合试验、碰撞与高温综合试验、冲击与低温综合试验、碰撞与低温综合试验、自由跌落与高温综合试验、自由跌落与低温综合试验
光学仪器冲击碰撞或跌落与高低温综合试验
试验标准
GB/T 12085.1-2022 光学和光子学 环境试验方法 第1部分:术语、试验范围
ISO 9022-13光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验
GB/T 12085.13-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验
DIN ISO 9022-13光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验
BS ISO 9022-13光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验
GB/T 2423.43 电工电子产品 环境试验 第2部分:试验方法 振动、冲击和类似动力学试验样品的安装
GB/T 12085.1光学和光学仪器 环境试验方法 第1部分:术语、试验范围
GB/T12085.2光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热
GB/T 12085.3光学和光学仪器 环境试验方法 第3部分:机械作用力
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
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