光学仪器温度周期与正弦振动、随机振动综合试验 光学仪器温度周期与正弦振动、随机振动综合试验 试验背景 光学和光子学仪器温度周期与正弦振动、随机振动综合试验为评估仪器损坏几率提供了一个相对经济的方法。在仪器研发阶段，有助于从仪器可靠性及维护方面优化材料、元件及组件选择，早期发现长期使用后可能存在的隐患；也可用于生产的监控检测，对于部件及整机装配，可及早发现与生产相关的缺陷或力学、电学及光学特性的误差，从而提高生产质量；从试验结果，可推断出仪器的特定耐久性条件，以消除早期故障及老化。
七二检测检测 检测VBA具备各种光学和光子学仪器的环境试验能力，为光学和光子学仪器产品提供专业的温度周期与正弦振动、随机振动综合试验等环境试验服务。 光学仪器温度周期与正弦振动、随机振动综合试验 试验范围 光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 光学仪器温度周期与正弦振动、随机振动综合试验 试验方法 如果使用机械或其他不可控的振动加速器，温度周期与正弦振动综合试验的加速度峰值或温度周期与随机振动（宽带）综合试验的加速度rms均方值可用试样或标准样本的预先试验方法设置。
不管试验中显示出任一加速度值，设定值在整个试验期间维持不变。
温度周期与随机振动（窄带）综合试验中的加速度rms均方值设置应按GB/T 2423.56的相关规定。
如果温度周期与随机振动（窄带）综合试验中使用控制振动加速器，则应按GB/T 2423.56的相关规定。
温度周期与正弦振动综合试验使用控制振动发生器应按GB/T 2423.10的相关规定。 光学仪器温度周期与正弦振动、随机振动综合试验 试验标准 GB/T 12085.1-2022 光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围
ISO 9022-19：1994光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围
GB/T 12085.19-2011 光学和光学仪器 环境试验方法 第19部分：温度周期与正弦振动、随机振动综合试验
GB/T 2423.10电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动（正弦）
GB/T 2423.43 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 振动、冲击和类似动力学试验样品的安装
GB/T 2423.56电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动（数字控制）和导则
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