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红外探测器机械环境试验

时间:2024-06-02 12:50:13  来源:  作者:
红外探测器机械环境试验

红外探测器机械环境试验 试验背景

机械环境试验也称为力学环境试验,是为了保证产品在规定的寿命期间,在预期的使用、运输、流通环境条件下,保持功能可靠性而进行的活动。红外探测器机械环境试验其特点表现为以力作用为突出特征,考核、评价产品在力作用下的功能可靠性、结构完好性。
七二检测检测检测VBA具备各种红外探测器的环境试验能力,为红外探测器产品提供专业的正弦振动试验、宽带随机振动试验、冲击试验、碰撞试验、等机械环境试验服务。

红外探测器机械环境试验 试验目的

1、确定红外探测器在运输、使用过程中可能受到的正弦振动的适应性和评价结构完好性。
2、确定红外探测器经受随机振动环境应力的适应性及评价结构完好性。
3、确定红外探测器在使用过程中承受非重复机械冲击作用的适应性以及(或)评定其结构的完整性。
4、确定探测器在使用和运输过程中承受多次重复性机械碰撞的适应性以及评定其结构完好性。
5、确定红外探测器经受恒定加速度环境应力的适应性及评价其结构完好性。
6、确定引出端以及引出端与试验样品本体的连接及其整体安装件经受装配或修理过程中可能遇到的转矩的能力。

红外探测器机械环境试验 试验项目

正弦振动试验、宽带随机振动试验、冲击试验、碰撞试验、恒定加速度试验、引出端及整体安装件强度试验

红外探测器机械环境试验 试验标准

GB/T 15430-1995 红外探测器环境试验方法
GB/T 2424.26-2008 电工电子产品环境试验 第3部分:支持文件和导则 振动试验选择
GB/T 2423.58-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fi:振动 混合模式
GB/T 2423.59-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/ABMFh:温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合
GB/T 2423.57-2008 电工电子产品环境试验 第2-81部分:试验方法 试验Ei:冲击 冲击响应谱合成
GB/T 4937 半导体器件机械和气候试验方法 手持电子产品用元器件桌面跌落试验方法

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