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X荧光光谱仪的原理是怎样的 X荧光光谱仪工作原理

时间:2025-04-12 18:46:49  来源:  作者:

    当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为(10)-12-(10)-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。MgW检测VBA

    这个过程称为驰过程,驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。MgW检测VBA

    当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的,与入射辐射的能量无关。MgW检测VBA

    当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,X射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。MgW检测VBA

    K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线,称为K系谱线:MgW检测VBA

    由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……MgW检测VBA

    同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射.如果入射的X射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层,此时就有能量ΔE释放出来,且ΔE=EK-EL,这个能量是以X射线形式释放,产生的就是Kα射线,同样还可以产生Kβ射线,L系射线等。MgW检测VBA

    莫斯莱(H.G.Moseley)发现,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下:MgW检测VBA

    λ=K(Z-s)-2这就是莫斯莱定律,式中K和S是常数,因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础.此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。MgW检测VBA

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X荧光光谱仪的应用

  X荧光光谱仪XRF、由激发源X射线管、和探测系统构成。X射线管产生入射X射线一次X射线,激发被测样品,产生X荧光二次X射线,探测器对X荧光进行检测。  1、在生物领域的应用  该领域主要用于临床测定生物样品中某些成分的含量,生物技术及免疫技术的分析等,如脱氧核糖和脱氧核糖核酸的含量测定、DNA、抗体、抗原等各方面的研究。在此领域中主要时利用各种荧光探针进行分析检测,主要分为生物纳米荧光探针和生物非纳米荧光探针。其中X荧光光谱仪纳米技术的兴起,打开了荧光分析的又一个新的领域。  2、在食品领域的应用  该领域主要用于食品中矿物质及金属元素、氨基酸、维生素、菌类污染、添加剂、防腐剂、食品包装有害物质、农药残留等的分析检测,特别是X荧光光谱仪与其它技术的结合可以更好的达到食品中各种物质的检测效果。  3、在药物分析中的应用  药物分析领域可以利用X荧光光谱仪进行药物的有效成分鉴定、药物代谢动力学研究、临床药理药效分析等。X荧光光谱仪可以分为三类:直接荧光分析、间接荧光分析和纳米荧光分析,目前被广泛用于抗菌素药物、止痛药、镇静剂、止血药等的分析。  4、在环境分析中的应用  该领域主要利用荧光分析检测环境中的物质的含量,主要是X荧光光谱仪对水体、矿石和土壤进行检测。有机化工行业发展迅速,农药以及其他的化学溶剂的大量使用, 这使得了环境问题迅速突出,因此该种设备在环境分析中有着重要的作用。MgW检测VBA

标签: X荧光光谱仪
X荧光光谱仪X荧光光谱仪的应用_X荧光光谱仪

X荧光光谱仪的制样过程中需要注意什么

  X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法,任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性,所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。MgW检测VBA

  X射线荧光实际上又是一个表面分析方法,激发只发生在试样的浅表面,必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外,样品的平均粒度和粒度分布是否有变化,样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作,还必须防止样品的损失和沾污。MgW检测VBA

  1、由样品制备和样品自身引起的误差:MgW检测VBA

  (1)样品的均匀性。MgW检测VBA

  (2)样品的表面效应。MgW检测VBA

  (3)粉末样品的粒度和处理方法。MgW检测VBA

  (4)样品中存在的谱线干扰。MgW检测VBA

  (5)样品本身的共存元素影响即基体效应。MgW检测VBA

  (6)样品的性质。MgW检测VBA

  (7)标准样品的化学值的准确性。MgW检测VBA

  2、引起样品误差的原因:MgW检测VBA

  (1)样品物理状态不同,样品的颗粒度、密度、光洁度不一样;样品的沾污、吸潮,液体样品的受热膨胀,挥发、起泡、结晶及沉淀等。MgW检测VBA

  (2)样品的组分分布不均匀样品组分的偏析、矿物效应等。MgW检测VBA

  (3)样品的组成不一致引起吸收、增强效应的差异造成的误差MgW检测VBA

  (4)被测元素化学结合态的改变样品氧化,引起元素百分组成的改变;轻元素化学价态不同时,谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。MgW检测VBA

  (5)制样操作在制样过程中的称量造成的误差,稀释比不一致,样品熔融不完全,样品粉碎混合不均匀,用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。MgW检测VBA

  3、样品种类样品状态一般有固体块状样品、粉末样品和液体样品等:MgW检测VBA

  (1)固体块状样品包括黑色金属、有色金属、电镀板、硅片、塑料制品及橡胶制品等,其中金属材料占了很大的比例。MgW检测VBA

  (2)粉末样品包括各种矿产品,水泥及其原材料,金属冶炼的原材料和副产品如铁矿石、煤、炉渣等;还有岩石土壤等。MgW检测VBA

  (3)液体样品油类产品、水质样品以及通过化学方法将固体转换成的溶液等。MgW检测VBA

  4、X荧光光谱仪分析法中不同样品有不同的制样方法:MgW检测VBA

    金属样品如果大小形状合适,或者经过简单的切割达到X荧光光谱仪分析的要求,只需表面抛光,液体样品可以直接分析,大气尘埃通常收集在滤膜上直接进行分析。而粉末样品的制样方法就比较复杂。这里只对常见的固体和粉末样品的制样方法进行讨论,液体样品就不再讨论。MgW检测VBA

标签: X荧光光谱仪
X荧光光谱仪X荧光光谱仪的制样过程中需要注意什么_X荧光光谱仪

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