X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。 X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。 技术原理： 元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长与元素的原子序数有关。 根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量。因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析 产品应用： X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得较多也广泛,它已然成为这些领域的常用检测设备了。PYx检测VBA
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X荧光光谱仪X荧光光谱仪的原理及应用_X荧光光谱仪
X荧光光谱仪在检测分析时采用了哪些定律？
在我们生活的环境中有很多种不同的元素，这些元素能够组成形态各异性质各异的导体以及非导体材料，X荧光光谱仪则能够对这些材料进行检测分析，看材料中究竟含有哪些元素。那么X荧光光谱仪在检测分析时采用了哪些定律呢？ 1、莫塞莱定律 莫塞莱定律是反应各个元素X射线特征光谱规律的一种实验定律，依靠莫塞莱定律进行分析的方式也是比较可靠的方法之一。X荧光光谱仪在对材料进行分析时也会使用到这一定律，在分析时X荧光光谱仪能够对内层电子的跃迁产生的、表明X射线特征的光谱和原子序数一一对应起来，从而获得分析结果。 2、布拉格定律 该定律是一种可以反映晶体衍射基本关系的理论推导定律，同时，布拉格定律是波长色散型X荧光光谱仪所使用的分光原理，在进行材料检测分析的时候能够让不同元素不同波长的特征X荧光完全分开，使谱线处理工作变得非常简单，降低仪器检出限。 3、比尔-朗伯定律 比尔-朗伯定律是反应样品吸收状况的定律，涉及到理论X射线荧光相对强度的计算问题。X荧光光谱仪采用这一定律进行检测分析时，样品可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要将混合的X射线按波长分开，分别测量不同波长的X射线强度，以进行定性和定量分析。PYx检测VBA
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